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名稱：納米等離子傳感分析儀
品牌：Insplorion
產(chǎn)地：瑞典
型號(hào)：Acoulyte
將光譜學(xué)與QCM-D相結(jié)合。同時(shí)使用納米等離子體光譜技術(shù)（NPS）和耗散監(jiān)測(cè)型石英晶體微天平技術(shù)（QCM-D）進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)量。當(dāng)配備Q-Sense窗口模塊時(shí)，Insplorion Acoulyte直接安裝在Q-sense Explorer（E1）和Analyzer（E4）儀器上。Insplorion Acoulyte傳感器是具有NPS結(jié)構(gòu)的Q-Sensor。
主要特征：
a、同時(shí)獲得相同表面上相同樣品的干質(zhì)量（折射率RI）、濕質(zhì)量（聲學(xué)）和黏彈性的實(shí)時(shí)變化。
b、使用Insplorion的納米等離子體光譜技術(shù)（NPS）和Q-Sense的耗散監(jiān)測(cè)型石英晶體微天平技術(shù)（QCM-D）在完全相同的實(shí)驗(yàn)條件下同時(shí)測(cè)量。
c、非常容易使用
由Q-Sense窗口模塊(QWM401)決定
傳感器
| 尺寸直徑 | 14 mm |
| 襯底 | SiO2涂層的QCM-D傳感器 |
| 表面 | 納米結(jié)構(gòu)金 |
| 標(biāo)準(zhǔn)涂層 | Si3N4, SiO2, Al2O3, TiO2 |
測(cè)量特征
| 光源 | 鹵鎢燈 |
| 靈敏度* | 0.03單分子層 |
| 測(cè)量點(diǎn)直徑 | 3 mm |
| 時(shí)間分辨率 | 每秒10個(gè)采樣點(diǎn) |
| 典型噪音 | <0.01 nm |
| 波長(zhǎng)范圍 | 450-1000 nm |
QCM-D的測(cè)量不受Acoulyte的影響。
尺寸(寬度x深度x高度)
| Acoulyte模塊 | 8x5x3 cm |
| Insplorion光學(xué)單元 | 25x27x9 cm |
軟件
| 兼容軟件 | Insplorer |
| 操作系統(tǒng) | 兼容Microsoft Windows操作系統(tǒng) |
| 數(shù)據(jù)輸出格式 | ASCII碼文本文件格式，直接使用的任何繪圖軟件都兼容此格式 |
| 分析的參數(shù) | 分析的參數(shù)多參數(shù)輸出(比如：LSPR峰處的共振波長(zhǎng)和消光) |
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| 測(cè)量 | 感應(yīng)深度 |
| NPS | 干質(zhì)量 | < 30 nm |
| QCM-D | 濕質(zhì)量 | > 300 nm |
| Acoulyte | 干質(zhì)量和濕質(zhì)量 | 深度分析 |
在納米等離子體光譜技術(shù)（NPS）中，納米結(jié)構(gòu)傳感器的局域表面等離激元共振技術(shù)（LSPR）用于探測(cè)鄰近傳感器表面（<30 nm）的折射率（與光/干質(zhì)量有關(guān)）的微小變化。它能夠極其靈敏地檢測(cè)發(fā)生在傳感器/樣品界面處的變化過程。
整個(gè)膜的質(zhì)量變化。
Acoulyte能夠更詳細(xì)地闡釋表面薄膜的形成過程。
囊泡吸附時(shí)折射率增大
囊泡坍塌時(shí)折射率增大
囊泡吸附時(shí)質(zhì)量增大
囊泡坍塌時(shí)質(zhì)量減小
c、氣體吸附/解吸附
